湖北红外荧光寿命成像报价

荧光寿命成像显微术(FLIM)是一种利用荧光染料固有特性的成像技术。除了具有特有的发射光谱外，每个荧光分子还有特有的寿命，它反映了荧光基团在发射光子之前处于激发态的时间。除了标准的荧光强度测量外，寿命分析还可以提供其他信息。过去，寿命成像一直是一种缓慢、复杂的专业化技术。只有经验丰富的显微镜**或物理学家才会使用这种技术。荧光寿命成像提供了额外的信息，有助提高共聚焦成像的质量。它非常适合用于区分荧光发射光谱重叠的荧光探针，或消除不需要的背景荧光信号。荧光寿命(FLT)是荧光团在发射光子并返回基态之前花费在激发态的时间。湖北红外荧光寿命成像报价

门控探测法适用于单组分荧光强度衰减的测量和荧光寿命成像。荧光寿命可通过在两个不同延迟时刻开启的相同宽度的门内记录的荧光强度信息求得，通常情形下，在条件允许的情况下，采用多门控探测，即选取多个窗口获取多幅图像（通常为5~10幅）来反演寿命图像。一般使用门控微通道板像增强器（MCP Intensifier）或者增强型CCD（Intensified CCD）相机，实现样品的宽场（full-field）荧光寿命成像。通过在样品受到超短光脉冲激发后的不同时刻（时间窗口）选通像增强器或CCD相机，获得一组荧光强度图像，然后利用公式，逐点计算出样品上各点的荧光寿命并成像。湖北红外荧光寿命成像报价由于荧光寿命成像不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能。

荧光寿命可以在频域或者时间域测量。时间域测量方法涉及用短光脉冲照射样品（比色皿、细胞或组织），然后随时间测量发射强度。FLT由衰减曲线的斜率确定。有几种荧光检测方法可用于寿命测量，其中时间相关单光子计数（TCSPC）可实现简单的数据收集和增强的定量光子计数。频域方法涉及高频率入射光的正弦调制。在该方法中，发射发生在与入射光相同的频率处，并且随着激发光兼有相位延迟和振幅的变化（解调）。寿命测量不需要波长比率探针来提供众多分析物的定量测定。寿命法通过使用光谱位移探针扩展了分析物浓度范围的灵敏度。寿命测量可用于没有直接探针的分析物。包括葡萄糖、抗原或基于荧光能量转移转导机制的任何亲和力或免疫测定。

荧光寿命成像或FLIM是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度，这使研究人员可以查看具有不同荧光衰减率的材料之间的对比度，还可以产生显示其他衰减路径变化的图像。可以通过使用脉冲源在时域中确定荧光寿命。当荧光物质被超短脉冲激发时，时间分辨的荧光将呈指数衰减。时间相关单光子计数（tcspc）通常被用作荧光寿命的测量方法，因为它补偿了在源强度和单光子的脉冲幅度的变化。更具体地说，TCSPC由单个光子雪崩光电二极管（SPAD）记录相对于激发激光脉冲的单个光子的寿命。重复记录多个激光脉冲，并在记录了足够多的事件后，研究人员能够建立所有这些记录的时间点上事件数量的直方图。然后，可以将该直方图拟合到的指数寿命衰减函数的指数函数，并且可以相应地提取寿命参数。在种类繁多的显微技术中，荧光寿命显微成像技术被普遍地应用于生物学研究及临床诊断等领域。

荧光寿命成像中的荧光寿命及其含义：假定一个无限窄的脉冲光(δ函数)激发n0个荧光分子到其激发态，处于激发态的分子将通过辐射或非辐射跃迁返回基态。假定两种衰减跃迁速率分别为Γ和knr，则激发态衰减速率可表示为：其中n(t)表示时间t时激发态分子的数目，由此可得到激发态物种的单指数衰减方程。荧光寿命定义为衰减总速率的倒数：荧光强度正比于衰减的激发态分子数，因此可将上式改写为：其中I0是时间为零时的荧光强度，τ为荧光寿命。也就是说荧光强度衰减到初始强度的1/e时所需要的时间就是该荧光物种在测定条件下的荧光寿命。实际上用荧光强度的对数对时间作图，直线斜率即为荧光寿命倒数的负值。荧光寿命也可以理解为荧光物种在激发态的统计平均停留时间。事实上当荧光物质被激发后有些激发态分子立即返回基态，有的甚至可以延迟到5倍于荧光寿命时才返回基态，这样就形成了实验测定的荧光强度衰减曲线。不同荧光基团激发态停时间不同，大多数生物荧光素的荧光寿命时间在 0.2 - 20 ns。湖北红外荧光寿命成像报价

荧光寿命成像使用简单，方便快捷，不需要进行参数调节。湖北红外荧光寿命成像报价

影响荧光寿命成像测量的因素有哪些？散射光的影响： 主要是瑞利散射光和拉曼散射光的影响较大。校正办法：先用短的激发光激发，检出溶液的拉曼峰，然后进行荧光光谱校正。因为荧光光谱不随激发光波长的改变而改变，而拉曼光却随之改变。高浓度样品的影响：1）当激发光照射高浓度样品时，在激发光入口附近产生荧光，但这些荧光并不能进入荧光检测器。2）高浓度的分子之间相互作用而发生活性阻碍现象。3）荧光的再吸收：即荧光光谱的短波长端和激发光谱的长波长端如果相互重叠，则发生荧光再吸收。湖北红外荧光寿命成像报价

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